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 Electrical Resistance/Capacitance Dual-Mode Tomography Based on Dual-Frequency Response 基于双频率响应的电阻/电容双模层析成像
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期刊：IEEE transactions on instrumentation and measurement 作者：Chao Tan; Shihao Huang; Guanghui Liang; Marco J. da Silva; Feng Dong 出版日期：2023-01-01 |
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