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Patent Value Analysis Using Deep Learning Models—The Case of IoT Technology Mining for the Manufacturing Industry
使用深度学习模型的专利价值分析-制造业物联网技术挖掘案例
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期刊:IEEE Transactions on Engineering Management 作者:Amy J.C. Trappey; Charles V. Trappey; Usharani Hareesh Govindarajan; John J. H. Sun 出版日期:2021-10-01 |
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