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标题
A Novel Evaluation Methodology for the Reliability and Lifetime of 200 mm E-Mode GaN-on-Si Power HEMTs
200 mm E型GaN-on-Si功率HEMTs可靠性和寿命的新评估方法
相关领域
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网址
https://doi.org/10.1109/tpel.2023.3238119
DOI
10.1109/tpel.2023.3238119 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Power Electronics
作者：Jingyu Shen; Chao Yang; Liang Jing; Ping Li; Hao Wu; et al
出版日期：2023-05-01
求助人
liuchuck 在 2024-10-21 15:19:06 发布自中国，悬赏 10 积分
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