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 A Novel Evaluation Methodology for the Reliability and Lifetime of 200 mm E-Mode GaN-on-Si Power HEMTs 200 mm E型GaN-on-Si功率HEMTs可靠性和寿命的新评估方法
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Jingyu Shen; Chao Yang; Liang Jing; Ping Li; Hao Wu; et al 出版日期：2023-05-01 |
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