标题 |
An X-ray diffraction method for lattice parameter measurements from correspondingKα andKβ reflexions
从K α和K β反射测量晶格参数的X射线衍射方法
相关领域
衍射
晶格常数
X射线
格子(音乐)
灵敏度(控制系统)
光学
材料科学
计算物理学
X射线晶体学
物理
工程类
电子工程
声学
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DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:S. Popović 出版日期:1971-06-01 |
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