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 Investigation of optoelectronic properties of tin-doped indium oxide thin films and contact resistivity with silver film: Role of oxygen concentration variation during sputter deposition tin掺杂氧化铟薄膜光电性能及与银膜接触电阻率的研究：溅射沉积过程中氧浓度变化的作用
相关领域
薄膜
材料科学
氧化铟锡
电阻率和电导率
溅射
铟
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锡
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期刊：Thin Solid Films 作者：S. U. Alam; Ashutosh Pandey; Shrestha Bhattacharya; Sourav Mandal; Vamsi K. Komarala 出版日期：2024-05-27 |
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