标题 |
Measurements of the sheet resistance and conductivity of thin epitaxial graphene and SiC films
石墨烯和SiC外延薄膜的片层电阻和电导率的测量
相关领域
石墨烯
薄板电阻
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材料科学
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其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:J. Krupka; Wlodek Strupinski 出版日期:2010-02-22 |
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