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![]() 增强MOSFET预测性维护中剩余使用寿命的预测:集成粒子滤波-高斯过程回归模型的有效性
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期刊:International Journal of Safety and Security Engineering 作者:Ehab Fakhri Hadi; Mohd Zafri Baharuddin; Ahmad Wafi Mahmood Zuhdi; Ghadir Kamil Ghadir; Hayder Musaad Al-Tmimi; et al 出版日期:2024-04-26 |
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