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 High Thermal Stability and Low Thermal Resistance of Large Area GaN/3C‐SiC/Diamond Junctions for Practical Device Processes 用于实际器件工艺的大面积GaN/3C-SiC/金刚石结的高热稳定性和低热阻
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期刊：Small 作者：Ryo Kagawa; Zhe Cheng; Keisuke Kawamura; Yutaka Ohno; Chiharu Moriyama; et al 出版日期：2023-11-14 |
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