Influence of the Device Structure on the Electrical and Photodetector Properties of n-MoS2/p-GaSe Heterojunction Optoelectronic Devices

异质结 响应度 光电子学 光电探测器 材料科学 光探测 整改 比探测率 电压 电气工程 工程类
作者
Xiaoxiang Wu,Wenxuan Guo,Mengge Li,Cong Xiao,Tianjian Ou,Zhanjie Qiu,Yewu Wang
出处
期刊:ACS applied nano materials [American Chemical Society]
卷期号:6 (13): 11327-11333 被引量:6
标识
DOI:10.1021/acsanm.3c01376
摘要

Van der Waals heterojunction devices are of great significance for developing high-performance optoelectronic devices. Here, a strategy has been introduced to effectively improve the performance of devices by designing their structure, and three types of devices based on MoS2/GaSe heterojunctions were designed and fabricated. The results have demonstrated that device-III effectively decreases the recombination of the electrons in GaSe flakes by removing the non-heterojunction region and depleting the GaSe flake, which results in electron-dominated channel current and much better electrical performance than device-I and device-II, such as a larger rectification ratio of 1.6 × 105 and an ideality factor of 1.06. Furthermore, a photodetector based on device-III exhibits high performance for self-driven photodetection under 532 nm light irradiation, including a responsivity of 249 mA/W, a specific detectivity of 3.6 × 1011 Jones, an open-circuit voltage of 0.56 V, and a short response/recovery time of 10.5 μs/7.3 μs. The results introduced here provide a path to significantly improve the electrical properties of optoelectronic devices based on a 2D material heterostructure.
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