| 标题 |
 Interface lattice displacement measurement to 1pm by geometric phase analysis on aberration-corrected HAADF STEM images 通过几何相位分析在像差校正的HAADF STEM图像上测量1pm的界面晶格位移
相关领域
材料科学
扫描透射电子显微镜
格子（音乐）
异质结
应变工程
结晶学
光学
透射电子显微镜
凝聚态物理
光电子学
纳米技术
硅
物理
化学
声学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Acta materialia 作者：Yuanyuan Zhu; Colin Ophus; Jim Ciston; Haiyan Wang 出版日期：2013-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
坚强的广山
带头大哥
个性的紫菜
彭于彦祖
一一
杳鸢
pluto
寻道图强
方赫然
竹筏过海
港岛妹妹
Yziii
iNk
爱静静
HEIKU
秀丽烨霖
嗯哼
8R60d8
Leonardi
背带裤打篮球
皖公网安备34019202002308
