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Relaxation Induced by Imprint Phenomena in Low-Temperature (400 °C) Processed Hf0.5Zr0.5O2-Based Metal-Ferroelectric-Metal Capacitors
相关领域
电容器
材料科学
铁电性
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期刊:ACS applied electronic materials 作者:Jaidah Mohan; Yong Chan Jung; Heber Hernandez-Arriaga; Jung Dae Kim; Takashi Onaya; et al 出版日期:2022-02-14 |
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