标题 |
Enhancements of electrical properties and positive bias instability in self-aligned top-gate a-IGZO TFTs by hydrogen incorporation
掺氢增强自对准顶栅a-IGZO薄膜晶体管的电学性能和正偏压不稳定性
相关领域
不稳定性
材料科学
氢
光电子学
化学
物理
机械
有机化学
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DOI | |
其它 |
期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Yuan-Ming Liu; Jih-Chao Chiu; Yu-Ciao Chen; Yu-Cheng Fan; Rongwei Ma; et al 出版日期:2024-03-07 |
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