| 标题 |
 Deep insights into the mechanism of nitrogen on the endurance enhancement in ferroelectric field effect transistors: Trap behavior during memory window degradation 氮对铁电场效应晶体管耐久性增强机制的深刻见解：存储窗口退化过程中的陷阱行为
相关领域
降级（电信）
材料科学
铁电性
机制（生物学）
窗口（计算）
晶体管
光电子学
场效应晶体管
存水弯（水管）
氮气
非易失性存储器
纳米技术
化学
电子工程
电气工程
计算机科学
环境科学
物理
工程类
电介质
电压
有机化学
操作系统
环境工程
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Yuanquan Huang; Hongye Yuan; Bowen Nie; Tiancheng Gong; Yuan Wang; et al 出版日期：2024-03-25 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
Henry
不配.
有人
iNk
肯德鸭
8R60d8
浅尝离白
寻道图强
itsserene
Estrella
pcr163
LY
竹筏过海
乐乐乐乐乐乐
Singularity
咖啡豆
HEIKU
丰盛的煎饼
tuanheqi
shinysparrow
皖公网安备34019202002308
