| 标题 |
 Improvement in Switching Characteristics and Bias Stability of Solution-Processed Zinc-Tin Oxide Thin Film Transistors via Simple Low-Pressure Thermal Annealing Treatment 通过简单低压热退处理改善溶液处理锌锡氧化物薄膜晶体管的开关特性和偏置稳定性
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
退火（玻璃）
氧化物
薄膜
热处理
热稳定性
光电子学
复合材料
纳米技术
冶金
图层（电子）
化学工程
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
寻道图强
带头大哥
iNk
yufanhui
坚强的广山
HEIKU
cannon8
柯西
合适洋葱
海4015
我不爱池鱼
CH
嗯哼
Lily
Phosphene
InfoNinja
Singularity
shinysparrow
rosalieshi
皖公网安备34019202002308
