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Radiation hardness evaluation of ε-Ga2O3 thin-film devices under swift heavy ion irradiation
ε-Ga2O3薄膜器件在快速重离子辐照下的辐射硬度评估
相关领域
快速重离子
辐照
材料科学
通量
薄膜
带隙
光电子学
辐射硬化
X射线光电子能谱
离子
辐射损伤
纳米技术
化学
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核物理学
核磁共振
有机化学
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期刊:Applied Surface Science 作者:Yongtao Yang; Yuanjun Tang; Fanyu Liu; Lei Wang; Fan Zhang; et al 出版日期:2024-01-01 |
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