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Characterization of Trapping Effects Related to Carbon Doping Level in AlGaN Back-Barriers for AlGaN/GaN HEMTs
AlGaN/GaN HEMTs中与碳掺杂水平相关的俘获效应的表征
相关领域
材料科学
光电子学
兴奋剂
表征(材料科学)
俘获
宽禁带半导体
高电子迁移率晶体管
电气工程
晶体管
纳米技术
电压
工程类
生态学
生物
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Ragnar Ferrand-Drake Del Castillo; Ding-Yuan Chen; Jr‐Tai Chen; Mattias Thorsell; Vanya Darakchieva; et al 出版日期:2024-05-03 |
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