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Direct Quantitative Extraction of Internal Variables from Measured PUND Characteristics Providing New Key Insights into Physics and Performance of Silicon and Oxide Channel Ferroelectric FETs
从测量的PUND特性中直接定量提取内部变量,为硅和氧化物沟道铁电FET的物理和性能提供新的关键见解
相关领域
铁电性
材料科学
电容器
光电子学
极化(电化学)
铁电电容器
硅
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电压
电介质
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物理化学
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其它 |
期刊:2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:M. Passlack; Nujhat Tasneem; Zheng Wang; Khandker Akif Aabrar; Jae Hur; et al 出版日期:2022-12-03 |
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