标题 |
An analytic model for minority-carrier transport in heavily doped regions of silicon devices
硅器件重掺杂区少数载流子输运的解析模型
相关领域
兴奋剂
退化(生物学)
俄歇效应
螺旋钻
硅
带隙
材料科学
载流子寿命
光电子学
计算物理学
电流密度
凝聚态物理
原子物理学
物理
量子力学
生物信息学
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:J.G. Fossum; M.A. Shibib 出版日期:1981-09-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|