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 Comparative Study on the Total Ionizing Dose Effects of the Superjunction and the Conventional Power MOSFETs 超结与常规功率MOSFET总电离剂量效应的比较研究
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期刊： 作者：Min Ren; Wenjing He; Wei Gao; Shao-Feng Cai; Zehong Li; et al 出版日期：2018-10-01 |
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