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Scaling-friendly approaches to minimize the magnitude and asymmetry of wafer warpage during 3-D NAND fabrication
在三维NAND制造过程中最小化晶片翘曲的大小和不对称性的缩放友好方法
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Oguzhan Orkut Okudur; Mario González; G. Van den bosch; M. Rosmeulen 出版日期:2023-06-01 |
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