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 In-Circuit Assessment of the Long-Term Reliability of E-Mode GaN HEMTs E型GaN HEMT长期可靠性的在线评估
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Giuseppe Capasso; Mauro Zanuccoli; Andrea Natale Tallarico; C. Fiegna 出版日期：2023-10-03 |
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