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High-NA EUV single patterning of advanced metal logic nodes: inverse lithography techniques in combination with alternative mask absorbers
先进金属逻辑节点的高NA EUV单图案化:结合替代掩模吸收器的反向光刻技术
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期刊: 作者:Ana-Maria Armeanu; Nick Pellens; Vicky Philipsen; E. Malankin; Dongbo Xu; et al 出版日期:2024-09-18 |
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