标题 |
Cyclic Stress Measurement Using XRD Analysis of Grains Grown in Electrodeposited Copper Foil
利用XRD分析电沉积铜箔中晶粒生长的循环应力测量
相关领域
材料科学
电子背散射衍射
箔法
衍射
铜
压力(语言学)
复合材料
冶金
微观结构
光学
语言学
物理
哲学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Experimental Mechanics 作者:K. Y. Cheng; Yoshihiro Ono; Celly Mieko Shinohara Izumi; Y. Yamamoto; Shigekazu Morito 出版日期:2023-08-18 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|