| 标题 |
 A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors’ thermal properties and devices’ temperatures 表征宽带隙半导体热性能和器件温度的热反射技术综述
相关领域
材料科学
光电子学
半导体
带隙
薄膜
宽禁带半导体
热的
半导体器件
纳米技术
工程物理
图层（电子）
物理
工程类
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Chao Yuan; Riley Hanus; Samuel Graham 出版日期：2022-12-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
渔舟唱晚
无名老大
杳鸢
吡咯爱成环
Candice
Yifan2024
半柚
VDC
tuanheqi
互助遵法尚德
嗯哼
不配.
糟糕的铁锤
模糊中正
cocolu
Arjun
David
peili
飞翔的企鹅
Gauss
皖公网安备34019202002308
