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Chemical interaction of NF3 ion beams and plasmas with Si (Part I): X-ray photoelectron spectroscopy studies
NF3离子束和等离子体与硅的化学相互作用(上):X射线光电子能谱研究
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期刊:Surface Science 作者:Thomas W. Little; Fumio S. Ohuchi 出版日期:2000-01-01 |
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