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Impact of Technology Scaling and Back-end-of-the-line Technology Solutions on Magnetic Random-Access Memories
技术扩展和后端技术解决方案对磁性随机存储器的影响
相关领域
缩放比例
直线(几何图形)
随机存取
计算机科学
数学
计算机网络
几何学
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期刊:IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits 作者:Piyush Kumar; Da Eun Shim; Siri Narla; Azad Naeemi 出版日期:2024-01-01 |
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