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![]() 在BBr3扩散过程中形成富硼层导致直拉硅中载流子寿命的退化
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:M. Kessler; Tobias Ohrdes; Bettina Wolpensinger; Nils‐Peter Harder 出版日期:2010-04-06 |
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