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Highly Robust Advanced Single Precursor Based k 2.4 ILD for Beol Cu Interconnects
用于Beol Cu互连的高鲁棒先进单前驱体k 2.4 ILD
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期刊:Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者:Deepika Priyadarshini; S. Nguyen; H. Shobha; E. Todd Ryan; S. M. Gates; et al 出版日期:2015-07-07 |
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