标题 |
Enhanced resistive switching performance in TiN/AlO /Pt RRAM by high-temperature I-V cycling
高温I-V循环增强TiN/AlO/Pt RRAM的电阻开关性能
相关领域
锡
自行车
电阻随机存取存储器
材料科学
光电子学
温度循环
冶金
电气工程
电压
工程类
物理
热力学
考古
热的
历史
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Solid-State Electronics 作者:Tao He; Huiyu Yan; Yixuan Wang 出版日期:2024-10-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|