| 标题 |
 Surface passivation film optimization and electronic sensitivity characteristic test of back-illuminated CMOS 背照式CMOS表面钝化膜优化及电感特性测试
相关领域
钝化
CMOS芯片
灵敏度（控制系统）
材料科学
光电子学
曲面（拓扑）
电气工程
电子工程
工程类
纳米技术
图层（电子）
几何学
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊： 作者：Jun Ma; Chao Xiao; Shiwei Lei; Tongtong Li; Chenglin Li; et al 出版日期：2024-04-30 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
坚强的广山
柳叶刀小猪
劲秉
一一
lalala
杳鸢
彭于彦祖
毛豆
嗯哼
paparazzi221
个性的紫菜
子车茗
tuanheqi
不懈奋进
爱静静
HCLonely
一只饺子
pluto
于芋菊
皖公网安备34019202002308
