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Visualizing Line Defects in non-van der Waals Bi2O2Se Using Raman Spectroscopy
用拉曼光谱显示非范德华Bi2O2Se中的线缺陷
相关领域
拉曼光谱
材料科学
石墨烯
范德瓦尔斯力
铋
光谱学
化学气相沉积
晶界
纳米尺度
光电子学
分子振动
分子物理学
光学
纳米技术
化学
量子力学
微观结构
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分子
有机化学
冶金
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其它 |
期刊:ACS nano 作者:Un Jeong Kim; Seung Hoon Nam; Jae M. Seo; Mikyung Yang; Qundong Fu; et al 出版日期:2022-02-15 |
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