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 Wafer-scale Te thin film with high hole mobility and piezoelectric coefficients 具有高空穴迁移率和压电系数的晶圆级Te薄膜
相关领域
薄脆饼
压电
材料科学
薄膜
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Xiaochi Tai; Qianru Zhao; Yan Chen; Hanxue Jiao; Shuaiqin Wu; et al 出版日期：2024-08-05 |
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