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 Study of Pass-Gate Voltage (VPASS) Interference in Sub-30nm Charge-Trapping (CT) NAND Flash Devices 亚30nm电荷俘获（CT）NAND闪存器件中通栅电压（VPASS）干扰的研究
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期刊： 作者：Yi‐Hsuan Hsiao; Hang-Ting Lue; Kai‐Chun Chang; Chih-Chang Hsieh; Tzu-Hsuan Hsu; et al 出版日期：2011-05-01 |
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