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 Exploring statistical approaches for accessing the reliability of Y2O3-based memristive devices Y2O3基忆阻器件可靠性的统计方法探索
相关领域
可靠性（半导体）
计算机科学
纳米技术
可靠性工程
材料科学
物理
工程类
功率（物理）
量子力学
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：Dhananjay D. Kumbhar; Sanjay Kumar; Mayank Dubey; Amitesh Kumar; Tukaram D. Dongale; et al 出版日期：2024-02-24 |
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