Characterization of a Sub-electron Readout Noise VGA Imager in a Standard CIS Process

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标题	书籍（章节） Characterization of a Sub-electron Readout Noise VGA Imager in a Standard CIS Process 标准CIS工艺中亚电子读出噪声VGA成像仪的表征相关领域视频阵列图形 PMOS逻辑噪音（视频）像素表征（材料科学）过程（计算）电子材料科学光电子学物理电子工程计算机科学电气工程光学工程类核物理学图像（数学）人工智能电压 CMOS芯片晶体管操作系统
网址	https://doi.org/10.1007/978-3-319-68774-2_7
DOI	10.1007/978-3-319-68774-2_7 doi
其它	期刊：Springer theses 作者：Assim Boukhayma 出版日期：2017-11-27
求助人	yatou5651 在 2024-12-31 09:13:23 发布自北京，悬赏 30 积分
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