Study of Vertical Ga2O3 FinFET Short Circuit Ruggedness using Robust TCAD Simulation

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标题	Study of Vertical Ga2O3 FinFET Short Circuit Ruggedness using Robust TCAD Simulation 基于鲁棒TCAD仿真的垂直Ga2O3 FinFET短路鲁棒性研究相关领域材料科学光电子学晶体管电路设计电压阈值电压热的热导率镓电子工程电气工程工程类物理热力学复合材料冶金
网址	https://doi.org/10.1149/2162-8777/ac9e73 AI链接 sjsu.edudoi.org
DOI	10.1149/2162-8777/ac9e73 doi
其它	期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Albert Lu; Adam Elwailly; Yuhao Zhang; Hiu Yung Wong 出版日期：2022-11-01
求助人	李沐唅在 2025-04-15 16:56:20 发布自贵州，悬赏 10 积分
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