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Current-collapse-free operations up to 850 V by GaN-GIT utilizing hole injection from drain
GaN-GIT利用漏极空穴注入实现高达850 V的无电流崩溃操作
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期刊:International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's 作者:Saichiro Kaneko; Masayuki Kuroda; Manabu Yanagihara; Ayanori Ikoshi; Hideyuki Okita; et al 出版日期:2015-05-10 |
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