| 标题 |
 Investigation of high performance Edge Lifted Capacitors reliability for GaAs and GaN MMIC technology GaAs和GaN MMIC工艺中高性能边缘提升电容器的可靠性研究
相关领域
电容器
材料科学
单片微波集成电路
光电子学
电介质
薄脆饼
介电强度
电容
微波食品加热
随时间变化的栅氧化层击穿
击穿电压
泄漏（经济）
电子工程
可靠性（半导体）
GSM演进的增强数据速率
栅极电介质
电气工程
电压
晶体管
CMOS芯片
工程类
化学
电极
功率（物理）
经济
物理化学
宏观经济学
量子力学
电信
放大器
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：Ming‐Hung Weng; Christopher Chen; Che-Kai Lin; Shih-Hui Huang; Jhih-Han Du; et al 出版日期：2014-11-21 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
嘉心糖
Emma
薰硝壤
彭于彦祖
随机子
YL
寻道图强
坚强的广山
嗯哼
梁朝伟
洁净白枫
陈军
iNk
tianzml0
爱静静
tuanheqi
吃不饱星球球长
个性的紫菜
8R60d8
shinysparrow
皖公网安备34019202002308
