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A Comprehensive Study on Characterization of Residual Stress of Build-Up Layer and Prediction of Chip Warpage
堆焊层残余应力表征与切屑翘曲预测的综合研究
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期刊:Journal of Electronic Packaging 作者:Chongyang Cai; Huayan Wang; Junbo Yang; Pengcheng Yin; Seungbae Park 出版日期:2023-10-30 |
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