标题 |
A numerical and experimental study on gap compensation and wavelength selection in UV-lithography of ultra-high aspect ratio SU-8 microstructures
超高长宽比SU-8微结构紫外光刻中间隙补偿和波长选择的数值与实验研究
相关领域
平版印刷术
材料科学
光学
折射率
抵抗
波长
宽带
纵横比(航空)
光刻
补偿(心理学)
下一代光刻
电子束光刻
光电子学
复合材料
物理
心理学
图层(电子)
精神分析
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|