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AES, EELS and XPS characterization of Ti(C, N, O) films prepared by PLD using a Ti target in N2, CH4, O2 and CO as reactive gases
以Ti靶在N2、CH4、O2和CO为反应气体中PLD制备的Ti(C,N,O)薄膜的AES、EELS和XPS表征
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期刊:Applied Surface Science 作者:G. Soto 出版日期:2004-05-01 |
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