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Study on formation mechanism of different differential resistance branches at avalanche breakdown curve of SGT-MOSFET
SGT-MOSFET雪崩击穿曲线上不同电阻支路形成机理的研究
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Le Su; Cailin Wang; Wuhua Yang; Chao Zhang 出版日期:2023-04-01 |
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