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![]() 全面了解固态芯级XPS谱线宽度:硅酸盐中Si 2 pandO 1谱线宽度的实验和理论研究
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期刊:Physical Review B 作者:G. M. Bancroft; H. W. Nesbitt; R. Ho; D. M. Shaw; J. S. Tse; M. C. Biesinger 出版日期:2009-08-05 |
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