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![]() 22 nm体nFinFETs中总电离剂量效应的偏压依赖性
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期刊:Radiation effects and defects in solids 作者:Xu Cui; Jiangwei Cui; Qiwen Zheng; Ying Wei; Yudong Li; et al 出版日期:2022-03-02 |
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