Defect simulation in SEM images using generative adversarial networks

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标题	Defect simulation in SEM images using generative adversarial networks 基于生成对抗网络的SEM图像缺陷模拟相关领域计算机科学生成语法人工神经网络人工智能生成对抗网络图像处理薄脆饼图像（数学）计算机工程深度学习计算机视觉机器学习模式识别（心理学）工程类电气工程
网址	https://doi.org/10.1117/12.2581881
DOI	10.1117/12.2581881 doi
其它	期刊：Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV 作者：Zhe Wang; Liangjiang Yu; Lingling Pu 出版日期：2021-02-22
求助人	liu66 在 2024-06-13 15:19:15 发布自中国香港，悬赏 20 积分
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