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Mobility–stability trade-off in oxide thin-film transistors
氧化物薄膜晶体管的迁移率-稳定性折衷
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
光电子学
晶体管
电子迁移率
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期刊:Nature electronics 作者:Yu‐Shien Shiah; Kihyung Sim; Yuhao Shi; Katsumi Abe; Shigenori Ueda; et al 出版日期:2021-11-22 |
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