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Ellipsometry on sputter-deposited tin oxide films: optical constants versus stoichiometry, hydrogen content, and amount of electrochemically intercalated lithium
溅射沉积氧化锡薄膜的椭偏测量:光学常数与化学计量、氢含量和电化学嵌入锂量的关系
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期刊:Applied Optics 作者:J. Isidorsson; Claes G. Granqvist; K. von Rottkay; M. Rubín 出版日期:1998-11-01 |
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