标题 |
Modelling the annealing of poly-Si/SiOx/c-Si junctions
poly-Si/SiOx/c-Si结退火的模拟
相关领域
材料科学
退火(玻璃)
光电子学
工程物理
凝聚态物理
复合材料
物理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:AIP conference proceedings 作者:Nils Folchert; Stefan Bordihn; Robby Peibst; Rolf Brendel 出版日期:2022-01-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|