标题 |
Interfacial charge and temperature analysis of gate-all-around line tunneling TFET for improved device reliability
提高器件可靠性的栅极——全方位线隧穿TFET界面电荷和温度分析
相关领域
量子隧道
材料科学
电荷(物理)
可靠性(半导体)
光电子学
直线(几何图形)
物理
量子力学
功率(物理)
几何学
数学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Physica Scripta 作者:Kadava R. N. Karthik; Chandan Kumar Pandey 出版日期:2024-07-02 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|