标题 |
Anti-Ferroelectric ZrO$_{\text{2}}$ Capacitors With Ultralow Operating Voltage ($<$1.2 V) and Improved Endurance Toward Logic Compatible eDRAM
反铁电ZrO$_{\text{2}}$电容器,具有超低工作电压($<$1.2 V)和改进的逻辑兼容eDRAM耐久性
相关领域
电容器
材料科学
铁电性
电压
电气工程
铁电电容器
逻辑门
光电子学
电子工程
工程类
电介质
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Jiacheng Xu; Minglei Ma; Ruijie Shen; Haoji Qian; Gaobo Lin; et al 出版日期:2024-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|